扫描范围：

最大 125 μm×125 μm×5 μm (“J” 垂直 模式)；10 μm×10 μm×2.5 μm (“E” 垂直 模式)；10 μm×10 μm×2.5 μm（”E” 模式）；0.4 μm×0.4 μm×0.4 μm（”A” 模式）

分辩率：

可持续稳定得到原子级分辨率

扫面点数：

最大 5120 × 5120

噪音水平：

≤0.3Å（全球最高水平）

扫面方式：

采用样品扫描的高分辨扫描方式，扫描管驱动样品扫描，探针支架、探针及激光头在扫描过程中保持位置恒定。

温度范围：

大气环境温度控制 -35～250 °C，液态环境 4 ～50 °C

标准配置：

显微镜控制器（ NanoScope V Controller ）；显微镜主测试系统；高分辨扫描器（Scanners ） ；探针支架工组(大气及液体环境实现形貌及物理特性测试要求)；光学系统（含彩色高分辨CCD系统）

测试模式及配件：

智能扫描模式、峰值力轻敲模式、接触模式、轻敲模式、相位成像模式、扭矩共振模式，扫描隧道显微镜、侧向力显微镜以及磁力、静电力、表面电势测量配件。

功能及特点：

样品表面形貌高分辨率成像；纳米机械性能（包括弹性模量和粘附力）等进行成像；材料表面电、磁、电化学性能研究。

测样要求：

1、样品尺寸 圆形，Φ1.5cm，方形 1.0×1.0 cm，厚度0.5 cm ；2、 样品厚度 小于0.5cm； 3、样品表面 颗粒高度小于1.5μm，或者在10μm范围内起伏度小于1.5μm，并且表面非常干净，无油脂或其他具有粘性的有机物颗粒或高聚物；4、 薄膜样品 表面洁净，无油脂；如可超声，需在送样前用有机溶剂超声，然后将正面朝上置于培养皿或者称量瓶中，盖好盖将样品密封，避免表面受污染；

仪器安放地点：

北大深研院B栋110

仪器负责人：

李珂

联系电话：

13544203759

Email：

Like@pkusz.edu.cn

预约说明：

接受校内预约，校外预约请直接联系仪器负责人

收费说明：

见收费标准