X射线光源：

Cu靶，陶瓷X光管，电压≤50kV，电流≤120mA ；

测角仪：

θ/θ立体式测角仪，采用光学编码器技术与步进马达双重定位，转动范围，-110°-168°，测角仪半径 ≥200nm，最小步长 0.0001°，角度重现性 0.0001°；驱动方式 步进马达驱动；最高定位速度 ≥1000°/mm；

二维能量色散阵列探测器：

线性范围≥4*107cps；背景＜0.1cps；有效面积≥14*16cm

主要配置：

陶瓷光管、旋转反射样品台、二维能量色散阵列探测器、PDF-2卡片库

软件：

TOPAS软件，数据处理软件和检索软件，可编程定量分析软件、无标样定量分析软件

功能及特点：

样品的物相分析（定性分析）、晶粒尺寸测定、分析纳米粒度大小及粒径分布、物相定量分析、薄膜物相鉴、.测量纤维或高分子样品的物相.取向度等、织构分析、应力分析等

测品要求：

粉末样品要求 干燥，在空气中稳定，粒度小于20μm，粉末样品量约需2 ~ 4g；
块状样品要求 测试面清洁平整，也可是板状、片状或丝状，带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状，厚度≤3cm，直径≤3cm。
特殊样品要求 微粉样品需要颗粒均匀细小，性质稳定，对Si无腐蚀性。条带需要平整光滑且不能太厚。
若样品中含有Fe、Co、Ni等荧光物质，请告知

仪器安放地点：

深圳西丽大学城北大园区B栋106

仪器负责人：

赵文光

联系电话：

18126352993

邮箱：

2201111377@stu.pku.edu.cn