分辨率：

0.8 nm at 15 kV　　1.6 nm at 1 kV

放大倍数：

12 ～1,000kx

电子枪：

热场发射型

探测电流：

4 pA ~ 20 nA

加速电压：

0.02 ~ 20kV，10V步进连续可调；

样品室：

330mm（直径） × 270 mm（高）；

样品台：

5轴电动样品台，X = 130mm，Y = 130mm，Z = 50mm，T = -3 到 70°，R=360°连续

能谱仪：

Oxford X-Max 80 电制冷X射线能谱仪

探测器：

In-Lens探测器、角度选择背散射电子探测器(AsB)、SE2探测器；

其他：

Leica EM ACE200/600全自动真空镀膜系统（喷金）

功能及特点：

对金属材料，复合材料，矿物材料，陶瓷，生物等材料进行表面微观形貌，结构组织性能分析，能谱成分分析

探测器：

测试样品必须为干燥固体、块状、片状、纤维状及粉末状均可。应有一定的化学、物理稳定性，在真空中 及电子束轰击下不会挥发或变形；无磁性、放射性和腐蚀性。一般情况下，样品尽量小块些（≤ 10 x 10 x 5 mm较方便）。纳米样品一般需超声波分散，并镀导电膜。

仪器安放地点：

深圳大学城北大园区B110室

仪器负责人：

李老师

联系电话：

13000000000

Email：

lh@growthman.cn

预约说明：

接受校内预约，校外预约请直接联系仪器负责人

收费说明：

略